光電探測(cè)實(shí)驗(yàn)儀是一種用于研究光電效應(yīng)、光與物質(zhì)相互作用及光電轉(zhuǎn)換特性的實(shí)驗(yàn)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于物理、材料科學(xué)、電子工程等領(lǐng)域的教學(xué)與科研。
光電探測(cè)實(shí)驗(yàn)儀基于光電效應(yīng)，將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)。當(dāng)光照射到光電探測(cè)器(如光電管、光電倍增管、光電二極管等)的光敏材料表面時(shí)，光子能量被吸收，激發(fā)電子從價(jià)帶躍遷至導(dǎo)帶，形成電子-空穴對(duì)。在電場(chǎng)作用下，電子和空穴分離并定向移動(dòng)，形成光電流。通過(guò)測(cè)量光電流的大小，可分析光信號(hào)的強(qiáng)度、頻率等特性。
通常由光源系統(tǒng)、光路系統(tǒng)、光電探測(cè)器和測(cè)量電路組成。光源發(fā)出的光經(jīng)光路系統(tǒng)照射到光電探測(cè)器上，光電探測(cè)器將光信號(hào)轉(zhuǎn)換為電信號(hào)，測(cè)量電路對(duì)電信號(hào)進(jìn)行放大、處理和測(cè)量，從而得到光電探測(cè)器的相關(guān)特性參數(shù)。
特性測(cè)量：可測(cè)量多種光電探測(cè)器的亮暗電流特性、伏安特性、光譜特性、時(shí)間響應(yīng)特性等。
應(yīng)用實(shí)驗(yàn)：部分儀器設(shè)有應(yīng)用實(shí)驗(yàn)?zāi)K，讓學(xué)生了解探測(cè)器在實(shí)際中的應(yīng)用，為選型提供實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)。
功能
光電效應(yīng)驗(yàn)證：通過(guò)實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證光電效應(yīng)的基本規(guī)律，如光電流與光照強(qiáng)度的關(guān)系、截止波長(zhǎng)等。
光譜響應(yīng)測(cè)量：測(cè)量光電探測(cè)器在不同波長(zhǎng)下的響應(yīng)度，繪制光譜響應(yīng)曲線。
伏安特性分析：研究光電探測(cè)器在不同偏置電壓下的電流-電壓特性。
響應(yīng)時(shí)間測(cè)試：測(cè)量光電探測(cè)器的上升時(shí)間和下降時(shí)間，評(píng)估其動(dòng)態(tài)響應(yīng)能力。
弱光探測(cè)實(shí)驗(yàn)：利用光電倍增管或雪崩二極管，研究*弱光信號(hào)的探測(cè)技術(shù)。
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更新時(shí)間：2025-11-08
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